GE USM 36超聲波缺陷探傷儀真品現(xiàn)貨的詳細(xì)資料：

GE USM 36超聲波缺陷探傷儀真品現(xiàn)貨

如果檢測對象的材料不具有同質(zhì)性，則在檢測對象的不 同部分上的聲波可能以不同的速度傳播。因此，范圍校 準(zhǔn)時(shí)應(yīng)考慮平均聲速。要做到這一點(diǎn)，可使用參考試 塊，其聲速等于檢測對象的平均聲速。 如果期望聲速變化較大，則應(yīng)調(diào)整儀器校準(zhǔn)，在更短的 時(shí)間間隔里，調(diào)整至實(shí)際聲速值。否則，可能導(dǎo)致錯誤 的壁厚讀數(shù)。USM 36 USM 36 是一種輕便緊湊型超聲波缺陷探傷儀，特別適合于： 材料缺陷的定位和評估；  壁厚測量； 檢測結(jié)果的保存和文件編制。

USM 36 探傷儀的設(shè)計(jì)使用可應(yīng)用于幾乎所有的缺陷檢 測，涉及多個(gè)行業(yè)，包括航天、發(fā)電、汽車以及油氣 等。其用途包括：

焊縫檢測

三角函數(shù)投影； AWS  DAC   DGS

鍛件和鑄件檢測

手動 PRF （脈沖重復(fù)頻率）調(diào)整  偽回波  DGS

鋼軌檢測

高 PRF （高達(dá) 2000Hz）  輕便：850g  小巧的人體工效設(shè)計(jì)

復(fù)合材料檢測

• 射頻顯示
• 雙閘門 A 和 B
• B 閘門由 A 閘門的事件觸發(fā) 更高要求的應(yīng)用
• 窄帶通濾波器
• 低噪聲數(shù)字放大器
• 可選方波脈沖發(fā)射器
• 斜率為 120 dB/µs 的 DAC （TCG）
• 底波衰減 （BEA）

選項(xiàng):

可選擇不同擴(kuò)展選項(xiàng)對 USM 探傷儀的基本功能進(jìn)行擴(kuò) 展，這些選項(xiàng)均可通過相應(yīng)的代碼啟用。

USB 36 Base 探傷儀● 基本版本，用于一般的超聲波檢測工作。

USM 36 AWS 探傷儀 ● AWS D1.1 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的幅度評估，用于焊縫檢查。

USM 36 DAC 探傷儀 ● EN 1712、 EN 1713、 EN 1714、 ASME 和 ASME III 標(biāo)準(zhǔn) 規(guī)定的 DAC 幅度評估，可使用多達(dá) 16 點(diǎn)；符合標(biāo)準(zhǔn) JIS Z3060。

DAC (TCG) 110 dB 動態(tài) 

DAC (BEA) 120 dB/µs 斜率 USM 36 DGS 探傷儀 

符合標(biāo)準(zhǔn) EN 1712 的 DGS 幅度評估 配備機(jī)載數(shù)據(jù)記錄儀的 USM 36 探傷儀

線性和網(wǎng)格文件模式的測量值記錄和文件編制。 配備方波脈沖發(fā)射器的 USM 36 探傷儀

能對初始脈沖參數(shù)進(jìn)行微調(diào)；

電壓設(shè)置 120…300V，遞增量 10V;

脈沖持續(xù)時(shí)間設(shè)置 30…500ns，遞增量 10ns ；

PRF （脈沖重復(fù)頻率）；

第三閘門 （C 閘門）。

USM 36 探傷儀的特殊功能;

輕便； 防塵防水外殼達(dá)到 IP66 等級； 使用鋰離子電池，既能內(nèi)部充電又能外部充電，工作 時(shí)間長 （13 小時(shí)）； 輕巧，配備防滑棘輪驅(qū)動式支架，同時(shí)也可用作手柄 ； 旋鈕，用于直接調(diào)整增益或改變當(dāng)前選擇的功能； 兩個(gè)獨(dú)立的閘門，用于從材料表面至*個(gè)回波，或 在兩個(gè)底波之間的壁厚測量，包括以 0.01mm （至 100mm）分辨率對涂層鋼材的測量； 放大閘門：將閘門范圍擴(kuò)展至整個(gè)顯示范圍； 高分辨率顏色顯示 (800 * 480 像素 ) 用于顯示數(shù)字化信 號；閘門及相應(yīng)讀數(shù)以彩色顯示，便于區(qū)別；當(dāng)因?yàn)楦淖傾-掃描或每個(gè)反射點(diǎn)的背景顏色而使用斜 探頭時(shí)，反射幾何圖形容易感知； 8GB 大容量 SD 卡。可以使用 16GB 容量的 SD 卡； 擴(kuò)大校準(zhǔn)范圍：取決于頻率范圍，zui大可達(dá)到 9999 mm （鋼）； 半自動化兩點(diǎn)校準(zhǔn)； 脈沖重復(fù)頻率可調(diào)，分為 “ 自動低 ”、“ 中 ”、“ 高 ” 3 步 長，或手動調(diào)為 5Hz 步長?？蛇x連接偽回波探測器；  根據(jù)連接的探頭選擇頻率范圍； 信號顯示：全波檢波、正或負(fù)半波檢波、射頻檢波；在 A- 掃描頂部顯示用戶可選擇的七個(gè)測量值，其中一 個(gè)測量值以放大模式顯示；或以放大模式顯示用戶可 選擇的四個(gè)測量值。

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