超便攜*DMS Go+超聲波測厚儀的詳細資料：

超便攜*DMS Go超聲波測厚儀

DMS Go+

Designed and developed with the user in mind

具有直觀，易于使用的箭頭鍵盤控制，強大的數(shù)據(jù)管理和的工業(yè)電子，提供準確，可靠和全面的厚度檢查數(shù)據(jù)。

DMS Go +厚度計可以輕松地轉(zhuǎn)換成一個全面的探傷儀與簡單的軟件升級。

概述

2015年7月30日 - GE公司（紐約證券交易所代碼：GE）測量和控制業(yè)務(wù)部門今天宣布增加DMS Go +系列準確，可靠和便攜式厚度計，增強型基本版本。版本配備了一個簡單的使用A掃描厚度計與集成數(shù)據(jù)記錄。由于這種添加，DMS Go +系列現(xiàn)在可以滿足zui全面的厚度測量任務(wù)。標準DMS Go +提供B掃描定時視圖，DMS Go + Advanced集成了擴展數(shù)據(jù)記錄和TopCOAT技術(shù)，可同時測量涂層和金屬厚度。此外，DMS Go + Advanced中的Auto-V功能在測量未知聲速的分量時不需要校準塊。

所有DMS Go儀器都具有高容量車載數(shù)據(jù)記錄器，并通過SD卡或USB端口將數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C。數(shù)據(jù)可以以各種文件格式移動，以便于與第三方數(shù)據(jù)管理以及可靠性基于機械完整性（RBMI）軟件以及與GE的UltraMate數(shù)據(jù)管理程序兼容的數(shù)據(jù)進行集成，從而提供全面的數(shù)據(jù)分析和文檔。

性能

DMS Go +在各種應(yīng)用和環(huán)境中為厚度測量，數(shù)據(jù)記錄和數(shù)據(jù)管理提供全面的手持解決方案。

高性能厚度測量

•零交叉測量技術(shù)，用于高測量穩(wěn)定性和可靠性

•自動增益控制，具有出色的重復(fù)性和腐蝕監(jiān)測。

•內(nèi)置溫度補償，可測量高達540°C（1000°F）

•多重校準和歸零模式，可重復(fù)精度。

•多種測量模式，包括厚度，A掃描，B掃描，zui小/zui大和差分。

高容量數(shù)據(jù)記錄器和與強大的數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)兼容

•機載數(shù)據(jù)記錄儀，具有數(shù)十萬個厚度讀數(shù)的容量，存儲A掃描，
B掃描和MicroGrid附件

•數(shù)據(jù)可以按預(yù)設(shè)，自定義或文件結(jié)構(gòu)進行組織。

•數(shù)據(jù)傳輸是通過SD卡或通過USB端口到PC。數(shù)據(jù)可以以各種文件格式傳輸，以便與用戶數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)輕松集成。
•兼容UltraMate和UltraMate Lite數(shù)據(jù)管理程序，可進行全面的數(shù)據(jù)分析和文檔編制。

使用方法

•直觀的箭頭鍵盤，用于參數(shù)的正數(shù)字控制

•單手操作和單手，菜單導(dǎo)向的校準過程

•“翻轉(zhuǎn)”功能允許使用左手操作和右手操作。

•一個800x480像素的大屏幕顯示屏，符合人體工程學(xué)設(shè)計，可減少眼睛疲勞，可調(diào)節(jié)眼睛，以在各種環(huán)境光條件下提供*的視野。
•體積小，重量輕（870g，1.9lb），結(jié)構(gòu)堅固，防護等級達IP67，適用于惡劣環(huán)境。
•電池允許長達10小時的操作，可以在車上或車外充電。

篤摯儀器主營關(guān)節(jié)臂,粗糙度儀,輪廓儀,圓度儀,圓柱度儀,淬火硬化層深無損測量儀,滲碳層測厚儀,滲氮層深度無損檢測儀,清潔度檢測系統(tǒng),內(nèi)窺鏡,投影儀,影像儀,光譜儀,測高儀,測長儀,齒輪嚙合儀,齒輪測量中心,探傷儀,測厚儀,硬度計,熱像儀等精密儀器。

應(yīng)用范圍廣泛

DMS Go +適用于工業(yè)和工藝領(lǐng)域的各種應(yīng)用中的厚度測量。它特別適用于腐蝕測量和監(jiān)測，即使在涂層組件和結(jié)構(gòu)和高溫。

典型應(yīng)用包括：

石油和天然氣

• 管，容器和罐中腐蝕的檢查和監(jiān)測

• 通過涂層測量剩余壁厚

發(fā)電產(chǎn)業(yè)

• 復(fù)雜幾何管的檢查

• 通過使用特殊探頭OSS-10測量鍋爐管道中的氧化皮來監(jiān)測鍋爐效率

航天領(lǐng)域

• 維護檢查

金屬工業(yè)

• 奧氏體材料的厚度測量

可選的應(yīng)用軟件（如TopCOAT技術(shù)）還允許測量涂層厚度以及金屬厚度，而Auto-V測量可以在未知聲速的元件上測量厚度，而無需使用校準塊。