泰勒霍普森Surtronic DUO是一款革命性的便攜式表面粗糙度測量儀，采用創(chuàng)新的分體式設(shè)計將驅(qū)動單元與顯示單元物理分離。該儀器符合ISO 4287、ASME B46.1等多國標(biāo)準(zhǔn)，兼具實(shí)驗(yàn)室級別的測量精度與現(xiàn)場檢測的便攜性，重量僅1.2kg的顯示單元可單獨(dú)攜帶進(jìn)行參數(shù)設(shè)置與數(shù)據(jù)讀取，有效擴(kuò)展了工業(yè)現(xiàn)場質(zhì)量控制的作業(yè)半徑。

核心技術(shù)特性

雙模塊架構(gòu)：驅(qū)動單元內(nèi)置高精度導(dǎo)程機(jī)構(gòu)，確保穩(wěn)定勻速的探頭掃描；顯示單元配備3.5英寸彩色觸摸屏，支持手套操作模式

參數(shù)覆蓋全面：同步測量Ra、Rz、Rq、Rt、Rp、Rv、Rsk、Rku、Rsm、Rmr等16個粗糙度參數(shù)，滿足復(fù)雜表面表征需求

智能校準(zhǔn)系統(tǒng)：集成快速自動校準(zhǔn)功能，配備RCG-H10標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)塊，全程校準(zhǔn)時間＜2分鐘

環(huán)境適應(yīng)性：防護(hù)等級IP64，抗電磁干擾能力強(qiáng)，在機(jī)加工車間、裝配線等復(fù)雜工況下保持測量穩(wěn)定性

應(yīng)用場景詳解

在汽車發(fā)動機(jī)缸體珩磨檢測中，Surtronic DUO可同時測量平臺網(wǎng)紋與溝槽深度；航空航天領(lǐng)域用于渦輪葉片榫槽粗糙度驗(yàn)證時，其分離式設(shè)計允許檢測人員在不拆卸部件的情況下完成狹小空間測量。醫(yī)療器械行業(yè)特別青睞其對植入物表面Ra（0.01-50μm）和Rz的高分辨率測量能力，配合泰勒霍普森專屬分析軟件可實(shí)現(xiàn)骨科植入物多參數(shù)質(zhì)量追溯。